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哪些因素会影响体积表面电阻率测定仪的测量结果

发布时间:2021-09-16      点击次数:270

哪些因素(su)会(hui)影响体积(ji)表面电阻率测(ce)定仪的测(ce)量结果

1 测量时间对测量结果的影响

   在测(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)电(dian)(dian)(dian)(dian)线电(dian)(dian)(dian)(dian)缆(lan)、大型电(dian)(dian)(dian)(dian)机、变(bian)压(ya)器(qi)等(deng)大容量(liang)(liang)电(dian)(dian)(dian)(dian)器(qi)时(shi),由于被(bei)测(ce)(ce)(ce)(ce)器(qi)件中存(cun)在较大的(de)(de)(de)分(fen)布(bu)电(dian)(dian)(dian)(dian)容以及绝缘材(cai)料的(de)(de)(de)介质吸收(shou)与极(ji)化(hua)现象(xiang)(xiang),其充电(dian)(dian)(dian)(dian)时(shi)间(jian)(jian)常(chang)数(shu)可(ke)能高达数(shu)十分(fen)钟(zhong),在测(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)开(kai)始时(shi),电(dian)(dian)(dian)(dian)容性电(dian)(dian)(dian)(dian)流占主(zhu)导(dao)地位(wei)(wei),电(dian)(dian)(dian)(dian)阻示值很小,随着电(dian)(dian)(dian)(dian)容电(dian)(dian)(dian)(dian)流逐渐衰减,仪表电(dian)(dian)(dian)(dian)阻示值呈缓慢上升,这是(shi)(shi)正常(chang)现象(xiang)(xiang)(如果(guo)电(dian)(dian)(dian)(dian)阻示值很快稳(wen)定,反而说明在测(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)开(kai)始时(shi)电(dian)(dian)(dian)(dian)导(dao)性泄漏(lou)电(dian)(dian)(dian)(dian)流就在在测(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)电(dian)(dian)(dian)(dian)流中占主(zhu)导(dao)地位(wei)(wei),这是(shi)(shi)被(bei)测(ce)(ce)(ce)(ce)对(dui)象(xiang)(xiang)因受潮(chao)而导(dao)致(zhi)绝缘不(bu)良的(de)(de)(de)一(yi)个主(zhu)要特(te)征(zheng))。为了取(qu)得一(yi)个比较确定的(de)(de)(de)测(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)结果(guo),通(tong)常(chang)对(dui)被(bei)测(ce)(ce)(ce)(ce)器(qi)件规(gui)定一(yi)个特(te)定的(de)(de)(de)测(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)时(shi)间(jian)(jian)(如电(dian)(dian)(dian)(dian)线电(dian)(dian)(dian)(dian)缆(lan)规(gui)定为1分(fen)钟(zhong)),可(ke)以通(tong)过设置仪器(qi)的(de)(de)(de)定时(shi)器(qi)获(huo)得所(suo)需的(de)(de)(de)定时(shi)时(shi)间(jian)(jian)。

2重复测量对测量结果的影响

   在(zai)测(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)电(dian)(dian)线电(dian)(dian)缆(lan)、大型电(dian)(dian)机、变压器(qi)等(deng)大容量(liang)(liang)电(dian)(dian)器(qi)的绝缘电(dian)(dian)阻(zu)时,如在(zai)短时间(jian)内进(jin)行(xing)重(zhong)复测(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang),则(ze)二次(ci)(ci)测(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)示(shi)值将明显(xian)比第一次(ci)(ci)测(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)示(shi)值高,这是(shi)由于(yu)被测(ce)(ce)(ce)器(qi)件(jian)(jian)中存在(zai)第一次(ci)(ci)测(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)所施加的残余(yu)电(dian)(dian)荷的缘故。这些器(qi)件(jian)(jian)充(chong)电(dian)(dian)时间(jian)很长(zhang),同样,放电(dian)(dian)时间(jian)也很长(zhang),在(zai)没有充(chong)分(fen)(fen)放电(dian)(dian)的情况下重(zhong)复测(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang),充(chong)电(dian)(dian)效果是(shi)叠加的,其等(deng)效作用是(shi)延长(zhang)了后一次(ci)(ci)测(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)实际(ji)上的测(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)时间(jian),电(dian)(dian)阻(zu)示(shi)值自然较高。因此,测(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)结果应以第一次(ci)(ci)测(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)为准,如要进(jin)行(xing)第二次(ci)(ci)测(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)则(ze)必须对被测(ce)(ce)(ce)器(qi)件(jian)(jian)进(jin)行(xing)充(chong)分(fen)(fen)放电(dian)(dian)后(一般为数十(shi)分(fen)(fen)钟至数小时)才能进(jin)行(xing)。

3 测量(liang)电压对测量(liang)结果的影响

   不(bu)(bu)同的测量电压可能会导致不(bu)(bu)同的测量结果,通(tong)常是测量电压越(yue)(yue)高,漏电流(liu)越(yue)(yue)大,电阻(zu)值越(yue)(yue)小,具(ju)体原因见(jian) 4.4.4节。

4 环(huan)境(jing)温度对测量结果的(de)影响(xiang)

   电(dian)线(xian)电(dian)缆、电(dian)力器(qi)件(jian)、半导体元件(jian)等被测(ce)对象的绝缘电(dian)阻(或漏(lou)电(dian)流)有很大的温(wen)度系(xi)数,如硅二极(ji)管,环(huan)境温(wen)度每增加8-10 ℃,其反向漏(lou)电(dian)流就(jiu)要增加一(yi)(yi)倍(bei)(bei),绝缘电(dian)阻值降低一(yi)(yi)倍(bei)(bei)。为了取得(de)一(yi)(yi)个(ge)比较确定的测(ce)量结果,通常(chang)对被测(ce)器(qi)件(jian)规(gui)定一(yi)(yi)个(ge)特定的测(ce)量环(huan)境温(wen)度,在其他温(wen)度下的测(ce)量结果,可以通过(guo)一(yi)(yi)定的公式换算到特定温(wen)度下的绝缘电(dian)阻。在超(chao)高阻及微(wei)电(dian)流测(ce)量中还必须

保证环境(jing)温(wen)度的稳定性(xing),我厂在研发实践(jian)中(zhong)发现,在变(bian)化的温(wen)度场(chang)中(zhong)( 如普通(tong)空调(diao)开启与停止之间有1-2℃的温(wen)度变(bian)化 ),测试导线(聚乙烯(xi)介质的同轴(zhou)电缆)会(hui)产(chan)生(sheng)10-13A - 10-12A  数量(liang)级的干扰电流(由于材(cai)料的热释(shi)电效应引起),试验室建议采用连续送风(feng)的中(zhong)央空调(diao)或变(bian)频式空调(diao)。

5环境湿(shi)度对(dui)测量结果的影响(xiang)

   环(huan)境(jing)湿(shi)度(du)对(dui)超高(gao)(gao)阻(>1013Ω)测(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)、绝(jue)缘材料(liao)表(biao)(biao)面电(dian)阻率测(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)、防静电(dian)工(gong)程表(biao)(biao)面电(dian)阻测(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)影响很大(da),这是(shi)由于绝(jue)缘材料(liao)表(biao)(biao)面吸(xi)湿(shi)效应所致(zhi)。虽然3.1.1.2节中规定(ding)了仪(yi)表(biao)(biao)的(de)(de)正常工(gong)作条件为相对(dui)湿(shi)度(du)不大(da)于80%(无凝露(lu)),但这仅(jin)对(dui)仪(yi)表(biao)(biao)本身而言,在(zai)超高(gao)(gao)阻测(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)的(de)(de)情(qing)况下,被(bei)测(ce)(ce)(ce)对(dui)象(包括检(jian)定(ding)仪(yi)表(biao)(biao)用(yong)的(de)(de)高(gao)(gao)值(zhi)标准(zhun)电(dian)阻器)对(dui)环(huan)境(jing)湿(shi)度(du)的(de)(de)敏感程度(du)要远远高(gao)(gao)于仪(yi)表(biao)(biao)本身。因此在(zai)进行(xing)上述测(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)时环(huan)境(jing)湿(shi)度(du)应不大(da)于60% RH,进行(xing)高(gao)(gao)绝(jue)缘电(dian)阻试(shi)验(yan)的(de)(de)试(shi)验(yan)室(shi)通常应备(bei)有(you)空气抽湿(shi)装置。

6环境干扰对测量结果的(de)影响

   环境干扰对超高阻(>1012Ω)、微弱(ruo)电流(<10-11A)测量结(jie)果的稳定性影响较大,用户(hu)应(ying)设(she)法避免的环境干扰包括:

a)电(dian)磁场干扰:高压(ya)交流输电(dian)线,大(da)型电(dian)机、变压(ya)器(qi)(qi)、电(dian)磁铁、中频及高频加热装(zhuang)置(zhi)以及产(chan)生电(dian)脉冲、电(dian)火(huo)花(hua)的干扰源包(bao)括手电(dian)钻、电(dian)吹风、电(dian)焊机、以及大(da)功率电(dian)器(qi)(qi)的启动(dong)与停止(zhi),都可能造成测量结果(guo)不稳定(ding)。

b)机械振动:仪表及被(bei)测对象应(ying)保(bao)持静(jing)止,机械振动会在电(dian)路中产生压电(dian)效(xiao)应(ying)、摩擦生电(dian)效(xiao)应(ying)以及被(bei)测物与(yu)仪表之(zhi)间(jian)分布(bu)电(dian)容的(de)变(bian)化,影响测量(liang)结果的(de)稳定性,尤(you)其要保(bao)证被(bei)测对象及测量(liang)导线(xian)的(de)绝对静(jing)止,在进行超高阻(>1013Ω)、极微弱电(dian)流(liu)(<10-12A)测量(liang)时,建议采用(yong)带有双重屏(ping)蔽(bi)层的(de)低(di)噪声电(dian)缆作(zuo)测量(liang)导线(xian),最好采用(yong)以空(kong)气(qi)为绝缘介质的(de)金属硬(ying)管空(kong)气(qi)电(dian)缆。

c)人体感应:因为人体与(yu)仪表及被测(ce)对象存在分布(bu)电容,且不可避(bi)免带有电荷,操作人员的走(zou)动、肢体移动都会(hui)引起周围电场的变化,导致仪表读数上下跳动。

d)空气中正负离(li)子的干扰:在(zai)(zai)测试现场,某些能造成(cheng)空气电(dian)离(li)的装(zhuang)置如正、负离(li)子发生器(qi),空气净(jing)化器(qi)等会对测量(liang)结果造成(cheng)较(jiao)大影(ying)(ying)响,实验表明,在(zai)(zai)进行超高阻(>1013Ω)、极微弱(ruo)电(dian)流(<10-12A)测量(liang)时,由空调、去湿机的压(ya)缩机,或电(dian)风扇(shan)引(yin)起的空气流动、摩(mo)擦所产生的微弱(ruo)电(dian)荷都会给测量(liang)结果带来明显(xian)影(ying)(ying)响。

   使用(yong)本仪表中的(de)滤波器可(ke)以在一定程(cheng)度(du)上提高仪表读数(shu)的(de)稳定性(xing),杜绝环境干(gan)扰的(de)最好办法(fa)是将(jiang)被测对象整体静置在金属屏(ping)蔽盒(he)内,并(bing)保持与屏(ping)蔽盒(he)绝缘良好,屏(ping)蔽盒(he)与仪表的(de)屏(ping)蔽端(duan)连接。


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